Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
И. О. Атовмян
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Купить можно в магазинах:
ISBN-10: 5-457-61479-4
ISBN-13: 978-5-457-61479-6
Год выхода: 2014
Язык книги: ru
Возрастные ограничения: 0+
Издательсто:
Синергия
Категория:
Математика